SURTRONIC 116粗糙度仪surtronic-116泰勒粗糙度仪

SURTRONIC 116粗糙度仪

标准配置

显示单元

112-1502标准测针

测针连接线

多刻线样板

测针提升机构

USB接口充电器

使用手册

USB通讯电缆

仪器箱

SURTRONIC 116粗糙度仪技术参数

数据显示 ：

显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果；

触摸屏可以四个方向转动，方便不同位置观看测试状态；

数据存储：

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘zui大4G，zui多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源：

充电器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间：4小时

电池寿命：充电一次可以做2000次测试

待机时间：5000小时

由待机状态到开机测试状态，zui长时间不超过1秒I

自动关机：30秒– 6小时可以自行设置

三、技术指标：

测量范围：200 um 100 um 10 um 

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 

重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 

可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

校准：

自动软件校准

标准：ISO4287

四、测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

zui大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

五、可选附件

测试平台：

00级大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

 可调Y轴V型铁

可调范围：±5mm

V型铁长度100mm