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涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100

产品名称:涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100

更新时间:2015-12-10

产品报价:

产品特点:涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100
德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头:

进口涂层测厚仪:
PosiTector6000涂层测厚仪PosiTestDFT涂层测厚仪Elcometer 415涂层测厚仪
Elcometer 121/4涂层测厚仪Elcometer 121/4涂层测厚仪Elcometer311涂层测厚仪
Elcometer 311涂层测厚仪Elcometer355涂层测厚仪Elcometer 456涂层测厚仪
SmarTestSmarTest智能涂层测厚仪QuintSonic7超声波涂层测厚仪MiniTest600涂镀层测厚仪
MiniTest 7400涂层测厚仪MINITESTMINITEST涂层测厚仪涂层测厚仪MiniTest 7400
涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100MiniTest 600涂镀层测厚仪德国EPKEPK涂层测厚仪NiFe50
国产涂层测厚仪:
Elcometer 141涂层测厚仪TT260F400涂层测厚仪TT290涂层测厚仪
LY5100涂层测厚仪TT3100涂层测厚仪TT2100N涂层测厚仪
TT2100F涂层测厚仪涂层测厚仪TT2300涂层测厚仪PRCT300国产涂层测厚仪
涂层测厚仪PRCT200国产涂层测厚仪时代TT260涂层测厚仪时代TIME2501覆层测厚仪-原TT230
时代TIME2510覆层测厚仪-原TT210时代TIME2500覆层测厚仪(原TT220)TT2200涂层测厚仪

涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

其他功能
透过涂层进行校准(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校准

利用计算机进行基础校准

补偿一个常数(Offset)

-

-

外设的读值传输存储功能

-

保护并锁定校准设置

更换电池是存储数值

设置极限值

-

-

公英制转换

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值

-

-

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

浮点和定点方式数据传送

组内单值延迟显示

-

连续测量模式中显示zui小值


可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头

量程

低端
分辨率

误差

zui小曲率
半径(凸/凹)

zui小测量
区域直径

zui小基
体厚度

探头尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm
N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

无限制

φ17x80mm

注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。


探头图示

FN1.6探头德国EPKFN1.6
0~1600μm,φ5mm
两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
FN1.6P探头德国EPKFN1.6P
0~1600μm,φ30mm
两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度

 
FN05探头德国EPKF05
0~500μm,φ3mm
磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
 
FN05探头德国EPKF1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
FN3探头德国EPKF3
0~3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
 
FN1.6/90探头德国EPKF1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
FN10探头德国EPKF10
0~10mm,φ20mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

 
FN20探头德国EPKF20
0~20mm,φ40mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等 
 
FN50探头德国EPKF50
0~50mm,φ300mm
适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
 
N02探头德国EPKN02
0~200μm,φ2mm
非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N08cr探头德国EPKN0.8Cr
0~80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
 
N1.6探头德国EPKN1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N1.6/90探头德国EPKN1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
 
N10探头德国EPKN10
0~10mm,φ50mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
N20探头德国EPKN20
0~20mm,φ70mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
 
N100探头德国EPKN100
0~100mm,200mm
非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
CN02探头德国EPKCN02
10~200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板
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