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薄膜涂层测厚仪的测量原理是怎样的?

发布时间:2022-01-12      点击次数:69
  精谱测控薄膜涂层测厚仪可以帮助我们实现高效的厚度检测服务,可以实现高效、无损的测量。用户可以通过这款设备提高检测效率和生产精度。用户可以选择薄膜测试仪来提高设备的检测效率,提供给市场更加优质的产品。
  精谱测控薄膜涂层测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
  精谱测控薄膜涂层测厚仪(技术方案):
  入射光在膜的上下表面发生多次反射
  反射光的强度和薄膜折射率,基底(substrate)折射率及膜厚,波长有关
  在已知折射率的情况下,根据测量出的反射光强和波长的函数,计算出膜厚
  精谱测控薄膜涂层测厚仪的功能介绍:
  1.测量镀膜或涂布厚度,厚度范围在10纳米-100微米,准确度达到2纳米或厚度0.4%,精度达到0.1纳米,测量稳定性0.3纳米。
  2.精确测量样品的颜色和在380-780纳米可见光范围内的反射率曲线。
  3.测量软件支持20层以内的物理模型,并对多个参数进行同时测量。
  4.具有折射率模型编辑拟合功能,对于100纳米-几个微米的膜,可以在折射率未知的情况下,结合软件对膜厚,折射率参数进行同时测量。
  5.软件具有对样品的粗糙度,背面反射,多角度入射进行建模的功能软件还可针对已知样品的模型,使用不同入射角和偏振进行仿真以计算不同情况下反射率曲线。
  6.软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时还支持函数型(Cauchy,Cauchy-Urbach,Sellmeier),物理光学(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(MaxwellGarnett,Bruggeman)EMA等折射率模型
  7.客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。
  8.我们还提供针对客户在线系统的定制检测系统。

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